Omni-V200 200mm焦距像差校正光柵光譜儀

產品簡介

Omni-V200 200mm焦距像差校正光柵光譜儀：北京卓立漢光儀器有限公司推出基于200mm凹面光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供80-300nm信號測量方案，解決真空紫外到紫外部分信號銜接問題。

產品型號：

更新時間：2025-06-19

廠商性質：生產廠家

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產品分類Product Categories

光譜儀器

激光器光電模組與系統微區磁光及角分辨原子光譜門控相機/分幅相機綜合光電性能測試系統高光譜相機高光譜分選儀拉曼光譜儀傅里葉紅外光譜儀太陽模擬器激光閃光光解光譜儀光致發光光譜儀熒光光譜分析儀（系統）伏安特性測試系統太陽能電池檢測儀器（系統）光譜測量系統光源高光譜影像光譜儀微弱信號處理器光譜儀，單色儀，攝譜儀光譜系統關聯產品紫外可見分光光度計標準白板探測器標定測光儀器樣品室
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Omni-V200 200mm焦距像差校正光柵光譜儀

產品概述

北京卓立漢光儀器有限公司推出基于200mm凹面光柵的像差校正光柵光譜儀，可以為客戶提供80-300nm信號測量方案，解決真空紫外到紫外部分信號銜接問題。該譜儀可以提供狹縫接口用于PMT探測，相機接口，可以配合真空相機（國產或進口）。可應用于高次諧波，真空紫外單色光源等應用。

本譜儀采用國際領*凹面光柵，設備小巧，同時接受定制計劃服務，可以完*配合您的實驗需求。
譜儀基本參數：

· 光學結構成像校正 S-N系統

· 入射角度 32度

· 焦距 200mm

· 波長準確性 0.1nm（@1200g/mm）

· 波長重復精度 0.1nm (@1200g/mm）

· 真空度 10E-6 Torr

光柵衍射示意圖

Omni-V200 200mm焦距像差校正光柵光譜儀

光柵信息：

光柵刻畫線（g/mm） 1200

分辨率（nm） 0.1

光譜范圍（nm） 80-300

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